作者：左太森; 馬長利; 韓澤華; 李雨晴; 李明濤; 程賀;*
關鍵字：小角中子散射，高分子
論文來源：期刊
具體來源：高分子學報 10.11777/j.issn1000- 3304.2020.20242
發表時間：2020年
小角中 子散射 SANS 是一種表征 從 納米到微米 尺寸 物質 特征結構的 有力 工具 配合 中子 的 強穿透性和同位素辨識 等 特性 在軟物質大分子 結構表征 方面發揮著獨特的作用 。 雖然 SANS 的基本原理與 小角激光光散射 和 小角X 射線 幾乎完全相 同 ，但是 SANS 譜儀 受限于中子源流強 只能建在大型中子源，所以 在 我國發展很晚，缺乏用戶基礎。隨著 中國 散裂中子源（ CSNS ）在 2018 年正式對外接受機時申請，國內 SANS 用戶群逐年擴大。大分子是 SANS 的主要研究領域，為進一步發展用戶， 我們 綜述 了 SANS 技術及其應用。 本文 首先 簡要 介紹小角中子散射 技術 的基本原理 、 譜儀結構 和 實驗 技巧 ，然后緊扣 小角譜儀的特點和 和方法學方面的最新進展， 介紹小角中子散射 在 大分子溶液、大分子共混物和復合材料、 高 分子結晶、凝膠、多孔材料、生物大分子 等 研究領域 的 結構表征 方面 的 典型應用 。