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薄膜中高分子結晶的亞穩態研究 |
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| 資料類型： |
PDF文件
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| 關鍵詞： |
薄膜 高分子結晶 亞穩態現象 自晶種技術 |
| 資料大小： |
71K |
| 所屬學科： |
高分子物理 |
| 來源： |
來源網絡 |
| 簡介： |
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高分子結晶中存在廣泛的亞穩態現象[1]。高分子鏈在晶體中由于無法完全伸展，而形成具有納米尺度厚度的片晶。根據Gibbs-Thomson關系，片晶的熱穩定性隨著厚度的增加而增加，而片晶的厚度與它所經歷的一切熱歷史有關。在實驗中表現為高分子晶體沒有單一的熔點，而是具有很寬的融程，這也說明高分子晶體的厚度具有多分散性。近期的實驗中[2]，Xu等人利用薄膜中的高分子自晶種技術制備了具有均一取向的納米尺寸的高分子晶體陣列，同時也說明了即使在同一塊片晶中，片晶的厚度也分布不均，厚的部分在自晶種過程中可以幸存下來，重結晶時誘導籽晶體生長。利用這一方法，我們可以通過研究自晶種后生成的子晶體數目來估計不同條件下得到的高分子片晶的厚度及厚度分布。 |
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| 上傳人： |
zhenzhen
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| 上傳時間： |
2009-09-08 11:42:41 |
| 下載次數： |
22 |
| 消耗積分： |
2
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| 13xyz 2013-04-11 17:01:03 |
| 有用，最近在研究 |
| okwnh 2011-06-01 11:04:42 |
| 很好的文件，謝謝了 |
| litracy1 2011-05-23 21:54:36 |
| 謝謝，正好有用 |
| darrens 2009-12-23 22:45:46 |
| 亞穩態，，不錯不錯··· |
| rubyjolin520 2009-10-02 10:22:56 |
| 不錯。。 我聚集態 |
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