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　　（1）結晶度Wc的表征
　　國際應用化學聯合會（IUPAC）1988粘推薦用W_c，a表示質量分率結晶度，下標c為結晶度，另一下標字母a代表用不同方法測得的質量分率結晶度，方法不同下標a將分別是其他字母。

　　①廣角X射線衍射（WAXS）測聚合物結晶度W_c，x
    用廣角X射線衍射儀，對樣品做出不同2θ角的衍射曲線，將衍射曲線的峰分解為結晶峰面積和非晶區面積，結晶峰面積與總衍射面積之比，即為W_c，x（下標x代表X射線衍射方法）

　　②密度測量法計算聚合物的結晶度W_e，d
    在密度梯度管中配置自上而下密度連續變化的密度梯度液體，并用標準密度的玻璃小球標定密度梯度管不同位置高度的密度值，將待測聚合物樣品投入標定后的密度梯度管中，測出聚合物樣品的密度，其倒數即為聚合物樣品的比容 。再用X射線衍射測得的該聚合物的晶胞參數，計算得到該聚合物“純晶體“的比容 ；由膨脹計法測定不同溫度下該聚合物熔體的密度，外推到聚合物樣品測密度時溫度下該聚合物非晶區的比容，按下式計算結晶度：（有時聚合物的，值可從專業手冊中查到）                                     

　　③量熱法計算聚合物的結晶度的Wc,h
    用示差掃描量熱儀（DSC），測定聚合物樣品的熔融熱焓（熔融峰的面積）ΔH_m，從手冊中查找該聚合物100％結晶時的熔融熱焓值ΔHm標準，則

ΔH_m標準也可采用下述方法求得，即用其他方法（如廣角X光衍射法WAXD，密度法等）已測得結晶度的該類聚合物的不同樣品，分別用DSC法測不同樣品的熔融熱焓，以測得的熔融焓ΔH_m值對結晶度作圖，外推到100％結晶度時的熔融熱焓值即為ΔH_m標準。

（2）結晶形態、晶體尺寸及晶胞參數的表征。
　　①偏光顯微鏡(PLM)法
用偏光顯微鏡觀察聚合物晶體的形貌，可以觀察聚合物單晶、球晶、樹枝狀晶、伸直鏈片晶、橫晶(transcrystalline)以及串晶(shish-kebab)等晶體的形貌。偏光顯微鏡的最佳分辨率為200nm，有效放大倍數在500-1000倍。
　　②高分辨透射電鏡法
用高分辨透射電鏡（樣品要制作得極薄），可以觀察到聚合物晶體的結構象。
　　③原子力顯微鏡（APM）法
用原子力顯微鏡可測量晶體切面的三維形貌。
　　④小角x射線散射（SAXS）法

用小角x射線散射法可測量聚合物中結晶顆粒的尺寸大小，尺寸分布及晶粒形狀。
　　⑤小角激光光散射技術（SALS）
用小角激光光散射技術可以測量聚合物薄膜、纖維固體樣品中結晶顆粒的平均粒徑。
　　⑥高分辨透射電鏡電子衍射結構分析法
用高分辨透射電鏡（樣品要制作得極薄），采用原位傾轉電子衍射結構分析的方法，取樣品不同傾轉方向時的衍射圖和它們的幾何關系，通過測量和計算，確定聚合物微單晶的晶胞參數。
　　（3）結晶速率和結晶動力學研究。
　　用示差掃描量熱法（DSC）研究聚合物結晶速率和結晶動力學有兩種方法，即等溫法和非等溫法。等溫法的研究方法是，將樣品在DSC中加熱到其熔點以上，稍恒溫后迅速降至樣品的結晶溫度，維持等溫，記錄的DSC熱譜圖上開始出現結晶放熱峰曲線，實驗后DSC儀將給出不同結晶時間完成的結晶數量份數。經數據處理，可得到相應結晶溫度時的結晶速度常數K值，結晶活化能E值和頻率因子A值。非等溫法給出的結晶數據更具實際意義，但數據處理相對較為復雜。
　　（4）結晶過程觀測
　　①偏光顯微鏡(PLM)法
用偏光顯微鏡觀測聚合物的結晶過程，將聚合物樣品熔融壓成薄片，放置于配有熱臺的偏光顯微鏡下，在一定溫度下恒溫觀察樣品的結晶過程。目鏡視野將由暗場，逐漸出現小亮點，小亮點逐漸長大，這是聚合物由出現晶核到晶體增長的過程。用目鏡數尺記錄不同時間聚合物晶體的尺寸變化，可定性求出晶體的生長速度。
　　②共振模式原子力顯微鏡（TM-AFM）法
用共振模式原子力顯微鏡觀察聚合物的晶體生長過程。由于共振模式原子力顯微鏡分辨率高，能記錄晶體生長的實時圖像，可以觀測到晶體形成時的初始過程，因此對研究結晶機理可以提供十分有用的數據。