隨著電子顯微學事業的飛躍發展，材料的電子顯微表征技術日新月異。具有場發射槍的高空間分辨分析型TEM，使人們可以采用高分辨技術、微衍射、電子能譜、電子能量損失譜對納米尺度的區域進行形貌、結構、成分分析。球差校正TEM又將點分辨率提高到0.08nm。利用環境掃描電鏡，能在低真空下加熱、冷卻、加氣、加液觀察樣品變化。配備EBSD附件的SEM可以方便地給出材料的晶粒尺寸、晶粒取向、織構等信息。STM的問世，實現了在實空間觀察到原子排成晶格結構圖像。AFM通過檢測探針與樣品的作用能在水平方向0.1nm，垂直方向0.01nm的分辨率表征樣品三維形貌。先進的儀器設備，加上方方面面對科研事業大力支持，我國電子顯微學領域的研究工作已開始步入世界相關學科前沿行列中。
伴隨原位觀察與材料性能測試的需求，應運而生的各種電鏡樣品臺的出現和應用引起我國新一輪材料電子顯微學研究高潮的到來。尤其對納米材料的結構、電、磁和力學性能的原位測量，獲得一系列嶄新的研究成果，為新材料發展與應用推廣提供理論、實驗依據。更可喜的是具有特定功能的電鏡樣品臺，不再完全依賴外國廠商。一些單位和科研人員開始自己設計、制造。有的已經用于材料研究工作，獲得成功，形成專利產品。在這種形勢下，召開全國材料電子顯微學會議展示、交流最新科研成果，促進我國材料科學發展與進步，是適時的、必要的。
為此，學會決定于2011年夏秋季召開全國材料科學電子顯微學學術研討會。大會將特別邀請國際、國內顯微學及相關科學領域著名學者做特邀報告，以使我國相關領域的廣大電鏡工作者和青年學生獲得與這些著名學者直接交流的機會。
大會將邀請相關儀器設備的廠商做電鏡和其他儀器的最新發展介紹及產品展示。大會的學術交流內容包括透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、微束分析、掃描探針顯微鏡(包括STM、AFM等)、激光共聚焦顯微鏡等在材料科學、納米科技、化學化工、環境科學、地學等領域中的基礎和應用研究成果;顯微學相關儀器的理論、技術和實驗方法的發展與改進;電鏡及其它顯微學儀器的使用、改進與維修經驗的交流等。大會將設2個分會場，分別為掃描電鏡在材料科學領域的應用及透射電鏡在材料科學領域的應用分會場。
二、征文
1. 征文內容：
(1)透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、微束分析儀器、掃描探針顯微鏡(含掃描隧道顯微鏡，原子力顯微鏡等)、激光共聚焦顯微鏡等在材料科學、化學化工、地學、環境科學等研究領域和生產中的應用。
(2)電子顯微鏡、微束分析儀器、掃描探針顯微鏡(含掃描隧道顯微鏡，原子力顯微鏡等)、激光共聚焦顯微鏡等儀器設備相關的理論研究，新產品研制，性能改進，軟件開發等。
(3)顯微學的圖像處理的理論研究，儀器設備及軟件研發。
(4)顯微學樣品制備的儀器，制樣方法和技術的研發與改進。
(5)顯微學儀器的管理、使用及維修方面的經驗。
會議將以大會邀請報告，分會場報告，專題討論，論文展示(poster)等形式進行。
2. 論文的體裁、格式、版面要求
(1) 應征論文應主題突出、數據可靠、論證嚴密、圖像清晰、文句簡練。要求提供論文詳細摘要稿1份(2版面)，同時請提供論文全文稿1份(原稿要求未在其他期刊發表過)。來稿同時用電子郵件發至編輯部(E-mail：dzxwxb@blem.ac.cn;抄送：dzxwxb@126.com)(格式見《電子顯微學報》征稿簡則，請登錄學報網頁查看：www.dzxwxb.ac.cn;或學會網站：www.china-em.net.cn)。論文摘要供會議論文(摘要)集刊用。論文全文將擇優錄用刊載于《電子顯微學報》。
(2) 對論文要求：
入選論文摘要稿將匯編成《2011年全國材料科學電子顯微學會議論文集》，單獨印刷出版，不再屬《電子顯微學報》。論文集為大16開本，文稿全部內容排在170mm×240mm的版面內，每篇論文摘要可占2個版面，所附圖片要求另用A4白紙剪裁整齊，規范排好。附英文題目、作者單位及作者姓名的漢語拼音。文集將在會議前出版。(參閱歷屆全國電子顯微學會議出版的論文摘要集的版面格式)
擇優選用的論文全文稿將在《電子顯微學報》以正刊形式于2011年發表。要求有詳細的英文摘要。
(3) 來稿由學術委員會組織專家審閱，根據文章水平及圖片質量擇優選用。來稿不論選用與否，概不退回。
(4) 征文截稿日期為2011年4月30日，以郵戳為準。來稿請寫明聯系人的姓名、地址、郵編、電話(含手機)及E-mail地址等。論文稿請寄“北京市中關村北二條13號，中國電子顯微鏡學會2011年全國材料科學電子顯微學會議秘書處，郵編100190”。過時恕不受理。
聯系電話：010-82671519(編輯部 李寧春);E-mail：dzxwxb@blem.ac.cn;dzxwxb@126.com
(征文文章)
010-82673560(秘書處 胡萍) E-mail：cemshp@163.cn(會議具體事務)
中國電子顯微鏡學會
“2011年全國材料科學電子顯微學會議”秘書處
2010年12月30日
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